Руководитель Федеральной службы по экологическому, технологическому и атомному надзору Константин Пуликовский примет 6 февраля 2007 года участие в ХII Международном форуме `ТЕХНОЛОГИИ БЕЗОПАСНОСТИ`. Форум пройдет с 6 по 9 февраля 2007 г. в Москве в МВЦ `КНазад
Руководитель Федеральной службы по экологическому, технологическому и атомному надзору Константин Пуликовский примет 6 февраля 2007 года участие в ХII Международном форуме `ТЕХНОЛОГИИ БЕЗОПАСНОСТИ`. Форум пройдет с 6 по 9 февраля 2007 г. в Москве в МВЦ `К
Основными вопросами, которые будут обсуждаться на форуме, станут: технические и инженерно-технические средства и системы безопасности, безопасность информации и связи, противопожарная защита производственных, социально-культурных объектов, инженерной, транспортной и социальной инфраструктуры, безопасность воздушного, железнодорожного и автотранспорта. Будет уделено внимание также проблемам безопасности техногенной сферы, охране и безопасности труда.
В рамках деловой программы планируется проведение более 50 мероприятий: конференций, семинаров, круглых столов, бизнес-семинаров компаний.
По словам К.Пуликовского, усилия Федеральной службы по экологическому, технологическому и атомному надзору направлены на то, чтобы обеспечить безопасность на производстве, сберечь окружающую среду от вредных выбросов промышленного производства в атмосферу, землю и воду, защитить человека, его жизнь и здоровье в условиях окружающих его технических механизмов, химически опасных веществ.
"Форум "Технологии безопасности" способствует построению конструктивного диалога между бизнесом и властью, объединению усилий в борьбе за безопасность, будь то безопасность информационная, атомная, промышленная или экологическая.
Дискуссии, круглые столы, конференции, включенные в деловую программу Форума, позволят участникам обсудить наиболее актуальные вопросы обеспечения безопасности и выработать новые решения насущных проблем, а также найти компромиссы по различным спорным вопросам", - отметил руководитель Ростехнадзора в приветствии Форуму.
